Schichtdickenmessgerät 0-1,25 mm x 0,0001 mm
mit Magnetfeld- und Wirbelstrom-Messverfahren für die Dickenmessung von metallischen und nichtmetallischen Beschichtungen
- Messbereich: 0 - 1.250 μm
- Messmodus: einzeln oder seriell
- Kalibriermethode: 1 und 2 Punkte
- Ablesung: 0,1 μm bis 99,9 μm | 1 μm ab 100 μm
- Genauigkeit: +/- (3% H + 1 μm)
- Inklusive Sonde F1, Sonde N1, 4 Kontrollplatten, Aluminium- u. Stahl-Platte und Aufbewahrungskoffer
Schichtdickenmessgerät 0 - 1,25 mm x 0,0001 mm
- Schichtdickenmessung mit Magnetfeld- und Wirbelstrom-Messverfahren
- Geignet für Beschichtungen aus Materialien wie Zink, Aluminium, Chrom, Kupfer, Gummi, Farbe, Kunststoff, Eloxierung etc.
- Kalibriermethode 1 Punkt und 2 Punkte
- Messmodus einzeln oder seriell
- Datenspeicher für 500 Messwerte
- Zwei externe Sonden F1 (Magnetfeld-Verfahren) und N1 (Wirbelstrom-Verfahren)
- USB-Schnittstelle
- Stromversorgung mit Batterien 3 x AA (nicht im Lieferumfang enthalten)
Sonde F1 - Magnetfeld-Verfahren
- Geeignet für Trägermaterialien aus magnetischen Werkstoffen wie Stahl, Stahllegierungen, Eisen, Magnete, etc.
- Beschichtungen aus nicht magnetischen Stoffen wie Zink, Aluminium, Chrom, Kupfer, Gummi und Farben, etc.
- Fläche größer Ø 30 mm oder Dicke der Beschichtung größer 100 µm
Sonde N1 - Wirbelstrom-Verfahren
- Geeignet für Trägermaterialien aus Nichteisenmetallen wie Aluminium, Kupfer, Zink, Titan, etc.
- Beschichtungen aus nichtmetallischen Werkstoffen wie Farben, Lacke, Kunststoffen, Gummi, Eloxierungen, etc.
- Fläche größer Ø 10 mm oder Dicke der Beschichtung größer 100 µm und verchromte Kupferbeschichtung bis 40 µm
Ablesung
- 0,1 μm bis 99,9 μm
- 1 μm ab 100 μm
Lieferumfang
- Schichtdickenmessgerät
- 1 Sonde F1
- 1 Sonde N1
- 4 Kontrollplatten
- 1 Aluminium-Platte
- 1 Stahlplatte
- Aufbewahrungskoffer